DM6 M LIBS
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DM6 M LIBS Lösung zur Analyse der Zusammensetzung von Mikrostrukturen
2-in-1 Lösung für visuelle und chemische Materialinspektion mit 90 % Zeitersparnis
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Erkennung von Batteriepartikeln während des Produktionsprozesses
In diesem Artikel wird erläutert, wie die Partikelerkennung und -analyse von Batterien mit optischer Mikroskopie und Laserspektroskopie für eine schnelle, zuverlässige und kostengünstige…
Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing
This article describes cross-section analysis for electronics concerning quality control and failure analysis of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), etc.
Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections
This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…
Factors to Consider for a Cleanliness Analysis Solution
Choosing the right cleanliness analysis solution is important for optimal quality control. This article discusses the important factors that should be taken into account to find the solution that best…
Effiziente Partikelzählung und -analyse
Dieser Bericht befasst sich mit der Partikelzählung und -analyse unter Verwendung der optischen Mikroskopie bei der technischen Sauberkeitsanalyse von Teilen und Komponenten. Die Partikelzählung und…
Quality Control Under the Microscope
Fast-rising demand for electric vehicles is one of the market’s main drivers, but there are other hotspots of growth, including the rise in renewable energy installations, such as photovoltaic panels,…
Technische Sauberkeit von Automobilkomponenten und -teilen
In diesem Artikel werden die ISO-Norm 16232 und die VDA 19-Richtlinien erläutert und die Verfahren zur Partikelanalyse kurz zusammengefasst. Diese liefern wichtige Kriterien für die Sauberkeit von…
Microstructural Characterization including Compositional Analysis
Leica Microsystems' versatile upright compound microscope, DM6 M, fitted with Laser-Induced Breakdown Spectroscopy module will let you not only analyze metallographically polished samples and conduct…
Keeping Particulate Contamination Under Control in Pharmaceutical Products
This article describes how a 2-methods-in-1 solution combining optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS) can be utilized for identification of particulate contaminants in the…
Depth Profiling and Layer Analysis for Inspection of Materials with a 2-In-1 Solution Combining Optical Microscopy and Laser Spectroscopy
In addition to simultaneous visual and chemical inspection, a 2-methods-in-1 materials analysis solution, which combines optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS), can also be…
Performing Elemental Analysis down to the Micro Scale
If you work in electronic component analysis, you will be familiar with the many challenges posed. Whether you are identifying metallic particles or checking product authenticity, it’s important to…
Visual and Chemical Analysis of Steel Microstructure: Faster Rating of Steel Quality
Simultaneous visual and chemical analysis of steel non-metallic inclusions with a 2-methods-in-1 solution, using optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS), is described in…
See the Structure with Microscopy - Know the Composition with Laser Spectroscopy
The advantages of a 2-in-1 materials analysis solution combining optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS) for simultaneous visual and chemical inspection are described in…
Batterieherstellung
Die Batterieherstellung stellt mehrere wichtige Herausforderungen in Bezug auf die Inspektion dar. Es werden Lösungen für die Probenvorbereitung und die mikroskopische visuelle und chemische Analyse…
Anwendungsbereiche
Metallographie
Metallographische Mikroskope von Leica sind für die Mikrostrukturanalyse von Metallen, Legierungen und sonstigen Materialien optimiert.
Automobilindustrie und Transport Industriemikroskope
Leica ist Ihr zuverlässiger Partner für Bildgebungslösungen, die Ihnen zu einem Wettbewerbsvorteil verhelfen können. Mit unseren intelligenten Mikroskopsystemen können Sie sich voll darauf…
Material- & Geowissenschaften
Sie benötigen die richtigen Werkzeuge für eine zuverlässige und qualitativ hochwertige Bildgebung und Analyse. Leica Microsystems bietet Ihnen alles aus einer Hand. Zusammen mit kompetenter…
Technische Sauberkeit
For industrial and electronics manufacturers as well as non-regulated pharma applications, solutions for an efficient technical cleanliness offer significant advantages.
Mikroskope für Materialanalysen
Die Materialanalyse erfordert Mikroskoplösungen für die Bildgebung, Messung und Analyse von Merkmalen in einer Vielzahl von Materialien wie Metalllegierungen, Halbleitern, Glas und Keramik sowie…
Märkte für industrielle Mikroskopie
Maximale Betriebszeit und effizientes Erreichen von Zielen helfen Ihnen, Ihr Ergebnis zu verbessern. Mit den Mikroskoplösungen von Leica Microsystems erhalten Sie Einblicke in kleinste Probendetails…
Metallindustrie
Leica Mikroskop-Lösungen für die Metallindustrie sind nützliche Werkzeuge, um die Qualität von Werkstoffen zu beurteilen und die Einhaltung relevanter Normen sicherzustellen.
Querschnittsanalyse in der Elektronik
Die Querschnittsanalyse für die Elektronik ermöglicht eine detaillierte Analyse der Mechanismen von Fehlern bei Komponenten wie Leiterplatten (PCBs), Baugruppen (PCBAs) und integrierten Schaltkreisen…
Elektronik- und Halbleiterindustrie
Für die Elektronik- und Halbleiterindustrie sind Lösungen für eine effiziente Inspektion, Querschnitts- und Sauberkeitsanalyse sowie für die Forschung und Entwicklung von PCBs, Wafern, IC-Chips und…
Batterieherstellung
Die Batterieherstellung stellt mehrere wichtige Herausforderungen in Bezug auf die Inspektion dar. Es werden Lösungen für die Probenvorbereitung und die mikroskopische visuelle und chemische Analyse…
Messmikroskope
Messmikroskope sind hilfreich für die Bestimmung der Abmessungen von Probenmerkmalen während der Qualitätskontrolle, bei der Fehleranalyse sowie in der Forschung und Entwicklung. Erfahren Sie mehr…
