Science Lab
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Das Wissensportal von Leica Microsystems bietet Ihnen Wissens- und Lehrmaterial zu den Themen der Mikroskopie. Die Inhalte sind so konzipiert, dass sie Einsteiger, erfahrene Praktiker und Wissenschaftler gleichermaßen bei ihrem alltäglichen Vorgehen und Experimenten unterstützen. Entdecken Sie interaktive Tutorials und Anwendungsberichte, erfahren Sie mehr über die Grundlagen der Mikroskopie und High-End-Technologien - werden Sie Teil der Science Lab Community und teilen Sie Ihr Wissen!
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Visualizing Photoresist Residue and Organic Contamination on Wafers
As the scale of integrated circuits (ICs) on semiconductors passes below 10 nm, efficient detection of organic contamination, like photoresist residue, and defects during wafer inspection is becoming…
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Graterkennung während der Batterieherstellung
Erfahren Sie, wie die optische Mikroskopie zur Graterkennung an Batterieelektroden und zur Bestimmung des Schadenspotenzials eingesetzt werden kann, um eine schnelle und zuverlässige…
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Rapid Semiconductor Inspection with Microscope Contrast Methods
Semiconductor inspection for QC of materials like wafers can be challenging. Microscope solutions that offer several contrast methods enable fast and reliable defect detection and efficient workflows.
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How to Boost your Microelectronic Component Inspection Performance
Do you need to see more when inspecting silicon wafers or MEMS? Would you like to get sharp and detailed sample images which are similar to those from electron microscopes?
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Brief Introduction to Surface Metrology
This report briefly discusses several important metrology techniques and standard definitions commonly used to assess the topography of surfaces, also known as surface texture or surface finish. With…