Leica Microsystems: Science Lab

Science Lab

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Partikel auf der Oberfläche einer Partikelfalle, die für die technische Sauberkeit bei der Batterieproduktion eingesetzt werden kann.

Erkennung von Batteriepartikeln während des Produktionsprozesses

In diesem Artikel wird erläutert, wie die Partikelerkennung und -analyse von Batterien mit optischer Mikroskopie und Laserspektroskopie für eine schnelle, zuverlässige und kostengünstige…

Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.

Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing

This article describes cross-section analysis for electronics concerning quality control and failure analysis of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), etc.

Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.

Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections

This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…

Optical microscope image of salt contamination on an aluminum/silicon (Al/Si) surface. Credit: Gerweck GmbH, Germany.

Microscopic Defects in Electroplating

This free on-demand webinar shows how to identify quickly root causes of defects during electroplating of components with optical microscopy and LIBS (laser spectroscopy).

The various solutions from Leica Microsystems for cleanliness analysis.

Factors to Consider for a Cleanliness Analysis Solution

Choosing the right cleanliness analysis solution is important for optimal quality control. This article discusses the important factors that should be taken into account to find the solution that best…

[Translate to German:] Particles and fibers on a filter which will be counted and analyzed for cleanliness

Effiziente Partikelzählung und -analyse

Dieser Bericht befasst sich mit der Partikelzählung und -analyse unter Verwendung der optischen Mikroskopie bei der technischen Sauberkeitsanalyse von Teilen und Komponenten. Die Partikelzählung und…

Quality Control Under the Microscope

Fast-rising demand for electric vehicles is one of the market’s main drivers, but there are other hotspots of growth, including the rise in renewable energy installations, such as photovoltaic panels,…

When particulate contamination is present in lubricating fluids or oils, it can cause damage to parts or components leading to malfunctions.

Hydraulics in the Automotive and Aerospace Industries

Cleanliness standards relating to lubricants, hydraulic fluids, and oils, e.g., ISO 4406 and DIN 51455 are discussed in this article. Cleanliness plays a central role in the automotive and…

[Translate to German:] Particles which could be found during cleanliness analysis of parts and components.

Technische Sauberkeit von Automobilkomponenten und -teilen

In diesem Artikel werden die ISO-Norm 16232 und die VDA 19-Richtlinien erläutert und die Verfahren zur Partikelanalyse kurz zusammengefasst. Diese liefern wichtige Kriterien für die Sauberkeit von…