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Science Lab
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![Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section. Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.](/fileadmin/_processed_/3/b/csm_Grinding_polishing_EM_TXP_91d5c1584d.jpg)
Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing
This article describes cross-section analysis for electronics concerning quality control and failure analysis of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), etc.
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![EBSD grain size distribution of the cross section of a gold wire within a silicon matrix from inside a CPU (central processing unit of a computer). The grains are highlighted with arbitrary colors. EBSD grain size distribution of the cross section of a gold wire within a silicon matrix from inside a CPU (central processing unit of a computer). The grains are highlighted with arbitrary colors.](/fileadmin/_processed_/d/0/csm_EBSD_grain_size_distribution_of_the_cross_section_of_a_gold_wire_58f1fb038c.jpg)
High-Quality EBSD Sample Preparation
This article describes a method for EBSD sample preparation of challenging materials. The high-quality samples required for electron backscatter diffraction are prepared with broad ion-beam milling.
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![[Translate to German:] SEM image of the full Li-NMC electrode sample, showing the two porous layers and the metal film at the center of the structure. [Translate to German:] SEM image of the full Li-NMC electrode sample, showing the two porous layers and the metal film at the center of the structure.](/fileadmin/_processed_/2/f/csm_Cross_Section_Ion_Beam_Milling_of_Battery_Components_teaser_5295ac1cbc.jpg)
Querschnitt-Ionenstrahlfräsen von Batteriekomponenten
Für ein umfassendes Verständnis von Lithiumbatteriesystemen ist eine qualitativ hochwertige Oberflächenpräparation erforderlich, um die innere Struktur und Morphologie zu untersuchen. Aufgrund der…