Leica Microsystems: Science Lab

Science Lab

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3 Factors Determine the Damage Potential of Particles

This article discusses the 3 factors for determining the potential of a particle to cause damage to parts and components in the automotive and electronic industry. These factors include the…

The various solutions from Leica Microsystems for cleanliness analysis.

Factors to Consider for a Cleanliness Analysis Solution

Choosing the right cleanliness analysis solution is important for optimal quality control. This article discusses the important factors that should be taken into account to find the solution that best…

Cleanliness Analysis for Particulate Contamination

Devices, products, and their components fabricated in many industries can be quite sensitive to contamination and, as a result, have stringent requirements for technical cleanliness. Measurement…

Partikel und Fasern auf einem Filter, die gezählt und auf Sauberkeit analysiert werden.

Effiziente Partikelzählung und -analyse

Dieser Bericht befasst sich mit der Partikelzählung und -analyse unter Verwendung der optischen Mikroskopie bei der technischen Sauberkeitsanalyse von Teilen und Komponenten. Die Partikelzählung und…

Partikel, die bei der Sauberkeitsanalyse von Teilen und Komponenten gefunden werden konnten.

Technische Sauberkeit von Automobilkomponenten und -teilen

In diesem Artikel werden die ISO-Norm 16232 und die VDA 19-Richtlinien erläutert und die Verfahren zur Partikelanalyse kurz zusammengefasst. Diese liefern wichtige Kriterien für die Sauberkeit von…

Keeping Particulate Contamination Under Control in Pharmaceutical Products

This article describes how a 2-methods-in-1 solution combining optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS) can be utilized for identification of particulate contaminants in the…

Depth Profiling and Layer Analysis for Inspection of Materials with a 2-In-1 Solution Combining Optical Microscopy and Laser Spectroscopy

In addition to simultaneous visual and chemical inspection, a 2-methods-in-1 materials analysis solution, which combines optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS), can also be…

Performing Elemental Analysis down to the Micro Scale

If you work in electronic component analysis, you will be familiar with the many challenges posed. Whether you are identifying metallic particles or checking product authenticity, it’s important to…

Introduction to Ion Beam Etching with the EM TIC 3X

In this article you can learn how to optimize the preparation quality of your samples by using the ion beam etching method with the EM TIC 3X ion beam milling machine. A short introduction of the…