Science Lab
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Das Wissensportal von Leica Microsystems bietet Ihnen Wissens- und Lehrmaterial zu den Themen der Mikroskopie. Die Inhalte sind so konzipiert, dass sie Einsteiger, erfahrene Praktiker und Wissenschaftler gleichermaßen bei ihrem alltäglichen Vorgehen und Experimenten unterstützen. Entdecken Sie interaktive Tutorials und Anwendungsberichte, erfahren Sie mehr über die Grundlagen der Mikroskopie und High-End-Technologien - werden Sie Teil der Science Lab Community und teilen Sie Ihr Wissen!
Visualizing Photoresist Residue and Organic Contamination on Wafers
As the scale of integrated circuits (ICs) on semiconductors passes below 10 nm, efficient detection of organic contamination, like photoresist residue, and defects during wafer inspection is becoming…
Graterkennung während der Batterieherstellung
Erfahren Sie, wie die optische Mikroskopie zur Graterkennung an Batterieelektroden und zur Bestimmung des Schadenspotenzials eingesetzt werden kann, um eine schnelle und zuverlässige…
Erkennung von Batteriepartikeln während des Produktionsprozesses
In diesem Artikel wird erläutert, wie die Partikelerkennung und -analyse von Batterien mit optischer Mikroskopie und Laserspektroskopie für eine schnelle, zuverlässige und kostengünstige…
Key Factors for Efficient Cleanliness Analysis
An overview of the key factors necessary for technical cleanliness and efficient cleanliness analysis concerning automotive and electronics manufacturing and production is provided in this article.
Rapid Semiconductor Inspection with Microscope Contrast Methods
Semiconductor inspection during the production of patterned wafers and ICs (integrated circuits) is important for identifying and minimizing defects. To increase the efficiency of quality control in…
Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing
This article describes cross-section analysis for electronics concerning quality control and failure analysis of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), etc.
Understanding Clearly the Magnification of Microscopy
To help users better understand the magnification of microscopy and how to determine the useful range of magnification values for digital microscopes, this article provides helpful guidelines.
Five Inverted-Microscope Advantages for Industrial Applications
With inverted microscopes, you look at samples from below since their optics are placed under the sample, with upright microscopes you look at samples from above. Traditionally, inverted microscopes…
Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections
This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…
