EM TIC020
Fresado con haz de iones
Preparación de muestras de ME
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Leica Microsystems
EM TIC020 Fresadora de triple haz de iones para cortes en plano inclinado
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EM TIC 3X
En agosto de 2011 se lanzó la nueva cortadora de triple haz de iones Leica EM TIC 3X, que reemplaza al modelo Leica EM TIC020.
La fresadora de triple haz de iones Leica EM TIC020 para la preparación de cortes en plano inclinado permite una preparación precisa y eficiente del lugar específico de la muestra para análisis SEM.
Obtenga cortes transversales de alta calidad de prácticamente cualquier material. Los portamuestras permiten un tamaño de muestra de hasta 50 x 50 x 10 mm. Se requiere una mínima preparación mecánica. El sistema consta de tres haces de iones con una platina de tres ejes y un microscopio de visualización.
For research use only
