XL Stand
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Leica Microsystems
XL Stand 대형 표본을 높은 입체 현미경 배율로 검사할 수 있는 모듈식 스탠드
모듈 방식의 Leica XL Stand가 인쇄회로기판 검사, 법의학 툴마크 또는 문서 조사, 및 TFT/LCD 검사와 같은 분야에서 높은 입체 현미경 배율로 대형표본을 검사할 수 있게 합니다.
XY 재물대(옵션)에는 스냅죔쇠가 달린 특수 ESD 매트가 있는데, 이는 대형 바닥판과 결합된 경우 민감한 전자 부품의 ESD 손상을 방지하기 위해 접지됩니다.
XY 재물대(옵션)는 최대 400 X 450mm의 대형 표본을 지원하고, 재물대 이동거리가 300 X 300mm이므로 최대 12” X 12”까지의 표본을 처리할 수 있어서, A4 크기의 문서도 재배치없이 한번에 검사할 수 있습니다.
Key Features
대형 표본 지원
XY 확장 – 깊이 360 mm까지의 대형 표본을 지원합니다.
대형 표본의 이동
옵션인 XY 재물대는 300 x 300 mm 이동 범위를 제공합니다 – 인쇄회로기판 같은 대형 표본의 이동을 최대 12” X 12”까지 가능하게 합니다.
민감한 전자 부품
2개의 커넥터가 있는 일반적인 바닥판 – 민감한 전자부품의 ESD 손상을 최소화하기 위하여 ESD 매트를 접지합니다.
미세한 조정
옵션인 XY 재물대: 미세 조정 – 높은 정확성 때문에 높은 배율로 조작하는 능력이 향상되었습니다.
