연락처

EM TIC020 경사절삭 준비를 위한 Triple Ion Beam Miller

보관된제품

교체된제품 EM TIC 3X

경사절삭(slope cuts) 준비용 Leica EM TIC020 Triple Ion Beam Miller는 SEM 분석을 위한 정확하고 효율적인 장소특이적 시료 전처리(site specific sample preparation)를 가능하게 합니다.

거의 모든 물질로부터 고품질 횡절편을 얻을 수 있습니다. 시료크기가 최대 50x50x10 mm까지 가능한 시료 홀더. 최소의 기계식 전처리가 필요합니다. 이 시스템은 3축 재물대가 있는 3이온빔과 관찰 현미경을 특징으로 합니다.

For research use only

경사절삭 준비를 위한 Triple Ion Beam Miller Leica TIC020

무엇을 도와드릴까요?

기술 지원/수리

시스템이 부분적으로 작동하지 않거나 작동하지 않아 도움이 필요합니다.

서비스 계약 문의

새로운 계약에 관심이 있거나 기존 계약을 관리하는 데 도움이 필요합니다.

소프트웨어 라이선스 요청

소프트웨어 라이센스를 갱신/업그레이드하고 싶습니다.

애플리케이션

내 시스템을 작동하는 데 도움/훈련이 필요합니다.

개인 컨설팅을 원하십니까? Show local contacts