EM TIC020
이온 빔 밀링 시스템-Ion Beam Milling
전자현미경 시료 전처리
제품소개
홈
Leica Microsystems
EM TIC020 경사절삭 준비를 위한 Triple Ion Beam Miller
보관된제품
교체된제품
EM TIC 3X