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EM TIC020 Pulverizador por feixe triplo de íons para preparação de cortes inclinados

Produto arquivado

Substituído por EM TIC 3X

Em agosto de 2011, o novo Leica EM TIC 3X - Sistema de Corte com Três Feixes Iônicos foi lançado e substitui o EM TIC020!

O Sistema de Corte com Três Feixes Iônicos Leica EM TIC020 para preparação de cortes oblíquos possibilita a preparação de áreas específicas da amostra com precisão e eficiência para análises de MEV.

Obtenha seções oblíquas de qualidade a partir de praticamente qualquer material. Os suportes de amostras permitem amostras de até 50x50x10mm. A necessidade de preparação mecânica é mínima. O sistema apresenta três feixes iônicos com três estágios axiais e microscópio para visualização.

For research use only

O sistema de corte com três feixes iônicos Leica TIC020

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