DM8000 M
Aufrechte Mikroskope
Lichtmikroskope
Produkte
Startseite
Leica Microsystems
DM8000 M Inspektions- und Reviewsystem für höchsten Durchsatz -
Lesen Sie unsere neuesten Artikel
Visualizing Photoresist Residue and Organic Contamination on Wafers
As the scale of integrated circuits (ICs) on semiconductors passes below 10 nm, efficient detection of organic contamination, like photoresist residue, and defects during wafer inspection is becoming…
Graterkennung während der Batterieherstellung
Erfahren Sie, wie die optische Mikroskopie zur Graterkennung an Batterieelektroden und zur Bestimmung des Schadenspotenzials eingesetzt werden kann, um eine schnelle und zuverlässige…
Rapid Semiconductor Inspection with Microscope Contrast Methods
Semiconductor inspection for QC of materials like wafers can be challenging. Microscope solutions that offer several contrast methods enable fast and reliable defect detection and efficient workflows.
How to Boost your Microelectronic Component Inspection Performance
Do you need to see more when inspecting silicon wafers or MEMS? Would you like to get sharp and detailed sample images which are similar to those from electron microscopes?
Watch this free webinar…
Brief Introduction to Surface Metrology
This report briefly discusses several important metrology techniques and standard definitions commonly used to assess the topography of surfaces, also known as surface texture or surface finish. With…
Anwendungsbereiche
Halbleiterinspektion
Erzielen Sie schnelle und zuverlässige Wafer- und Halbleiterprüfungen für die Waferverarbeitung sowie IC-Verpackung, -Montage und -Prüfung mit Mikroskop- und Probenvorbereitungslösungen.
Märkte für industrielle Mikroskopie
Maximale Betriebszeit und effizientes Erreichen von Zielen helfen Ihnen, Ihr Ergebnis zu verbessern. Mit den Mikroskoplösungen von Leica Microsystems erhalten Sie Einblicke in kleinste Probendetails…