Industrie

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Tauchen Sie ein in detaillierte Artikel und Webinare, die sich mit effizienter Inspektion, optimierten Arbeitsabläufen und ergonomischem Komfort in industriellen und pathologischen Umgebungen befassen. Zu den behandelten Themen gehören Qualitätskontrolle, Materialanalyse, Mikroskopie in der Pathologie und vieles mehr. Sie erhalten wertvolle Einblicke in den Einsatz von Spitzentechnologien zur Verbesserung der Präzision und Effizienz von Fertigungsprozessen sowie zur präzisen pathologischen Diagnose und Forschung.
Documentation of an automotive clutch friction surface with a digital microscope

Automotive Part Verification and Development according to Specifications

Automotive part verification during the development and production of parts and components by suppliers or manufacturers is important for ensuring that specifications are met. Specifications are…

A Guide to Darkfield Microscopes

A darkfield microscope offers a way to view the structures of many types of biological specimens in greater contrast without the need of stains.
Leitz Laborlux: Tartaric acids, polarization contrast

Das Prinzip der Polarisationsmikroskopie

Die Polarisationsmikroskopie wird in den Material- und Geowissenschaften routinemäßig eingesetzt, um Materialien und Mineralien anhand ihrer charakteristischen Brechungseigenschaften und Farben zu…
Image of magnetic steel taken with a 100x objective using Kerr microscopy. The magnetic domains in the grains appear in the image with lighter and darker patterns. A few domains are marked with red arrows. Courtesy of Florian Lang-Melzian, Robert Bosch GmbH, Germany.

Rapidly Visualizing Magnetic Domains in Steel with Kerr Microscopy

The rotation of polarized light after interaction with magnetic domains in a material, known as the Kerr effect, enables the investigation of magnetized samples with Kerr microscopy. It allows rapid…
Region of a patterned wafer inspected using optical microscopy and automated and reproducible DIC (differential interference contrast). With DIC users are able to visualize small height differences on the wafer surface more easily.

6-Inch Wafer Inspection Microscope for Reliably Observing Small Height Differences

A 6-inch wafer inspection microscope with automated and reproducible DIC (differential interference contrast) imaging, no matter the skill level of users, is described in this article. Manufacturing…
Optical microscope image, which is a composition of both brightfield and fluorescence illumination, showing organic contamination on a wafer surface. The inset images in the upper left corner show the brightfield image (above) and fluorescence image (below with dark background).

Visualizing Photoresist Residue and Organic Contamination on Wafers

As the scale of integrated circuits (ICs) on semiconductors passes below 10 nm, efficient detection of organic contamination, like photoresist residue, and defects during wafer inspection is becoming…

Workflow Solutions for Sample Preparation Methods for Material Science

This brochure presents and explains appropriate workflow solutions for the most frequently required sample preparation methods for material science samples.
Eine Batterieelektrode, deren Ränder Grate aufweisen (mit roten Pfeilen markiert). Das Bild wurde mit einem Digitalmikroskop DVM6 aufgenommen.

Graterkennung während der Batterieherstellung

Erfahren Sie, wie die optische Mikroskopie zur Graterkennung an Batterieelektroden und zur Bestimmung des Schadenspotenzials eingesetzt werden kann, um eine schnelle und zuverlässige…
Partikel auf der Oberfläche einer Partikelfalle, die für die technische Sauberkeit bei der Batterieproduktion eingesetzt werden kann.

Erkennung von Batteriepartikeln während des Produktionsprozesses

In diesem Artikel wird erläutert, wie die Partikelerkennung und -analyse von Batterien mit optischer Mikroskopie und Laserspektroskopie für eine schnelle, zuverlässige und kostengünstige…
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