
Medizinische Fachgebiete
Medizinische Fachgebiete
Entdecken Sie eine umfassende Sammlung wissenschaftlicher und klinischer Ressourcen, die speziell für Ärzte im Gesundheitswesen entwickelt wurden, darunter Berichte von Kollegen, klinische Fallstudien und Symposien. Speziell für Neurochirurgen, Augenärzte, plastische und rekonstruktive Chirurgen, HNO-Ärzte und Zahnärzte. Diese Sammlung präsentiert die neuesten Fortschritte in der chirurgischen Mikroskopie. Entdecken Sie, wie modernste chirurgische Technologien wie AR-Fluoreszenz, 3D-Visualisierung und intraoperative OCT-Bildgebung eine sichere Entscheidungsfindung und Präzision bei komplexen Eingriffen ermöglichen.
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Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing
This article describes cross-section analysis for electronics concerning quality control and failure analysis of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), etc.
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Hochwertige EBSD-Probenvorbereitung
Es wird eine zuverlässige und effiziente EBSD-Probenvorbereitung von „gemischten“ kristallografischen Materialien mit Ionenbreitstrahlfräsen beschrieben. Das beschriebene Verfahren erzeugt…
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Querschnitt-Ionenstrahlfräsen von Batteriekomponenten
Für ein umfassendes Verständnis von Lithiumbatteriesystemen ist eine qualitativ hochwertige Oberflächenpräparation erforderlich, um die innere Struktur und Morphologie zu untersuchen. Aufgrund der…
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Introduction to Ion Beam Etching with the EM TIC 3X
In this article you can learn how to optimize the preparation quality of your samples by using the ion beam etching method with the EM TIC 3X ion beam milling machine. A short introduction of the…
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Studying the Microstructure of Natural Polymers in Fine Detail
The potential of cryogenic broad ion beam milling used in combination with scanning electron microscopy (cryo-BIB-SEM) for imaging and analyzing the microstructure of cryogenically stabilized soft…
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Practical Applications of Broad Ion Beam Milling
Mechanical polishing can be time consuming and frustrating. It can also introduce unwanted artifacts when preparing cross-sectioned samples for electron backscatter diffraction (EBSD) in the scanning…