Science Lab

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Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.

Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections

This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…
Geringe Vergrößerung DVM6-Bild eines Teils der PCBA-Probe.

Schnelle und zuverlässige Untersuchung von Leiterplatten und Leiterplattenbaugruppen mittels Digitalmikroskopie

Digitalmikroskope bieten Anwendern eine bequeme und schnelle Möglichkeit zur Erfassung hochwertiger, zuverlässiger Bilddaten und zur schnellen Inspektion und Analyse von Leiterplatten (PCBs) und…
The Emspira 3 digital microscope offers what users need for comprehensive visual inspection, including comparison, measurement, and documentation sharing.

Digital Inspection Microscope for Industrial Applications

Factors users should consider before choosing a digital inspection microscope for industrial applications, including quality control (QC), failure analysis (FA), and R&D, are described in this…
Electronic component

Top Challenges for Visual Inspection

This article discusses the challenges encountered when performing visual inspection and rework using a microscope. Using the right type of microscope and optical setup is paramount in order to…
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