EM TXP Sistema de preparación de la superficie de blancos
El sistema Leica EM TXP es un dispositivo de preparación de blancos para fresar, aserrar, triturar y pulir muestras antes de realizar un examen mediante técnicas de SEM, TEM y LM.
El microscopio estereoscópico integrado permite localizar y preparar de forma sencilla blancos apenas visibles. Con el brazo de pivote para muestras, es posible observar directamente la muestra en un ángulo entre 0° y 60° o de 90° con respecto a la cara frontal para determinar la distancia con una retícula ocular.
Key Features
Control automático e integrado de procesos
El control de procesos con mecanismo de guía E-W automático, el control de introducción de fuerza ajustable y la función de cuenta atrás ahorran al usuario la larga tarea de preparación rutinaria de muestras.
Examen del resultado y del acabado de la muestra
El examen del resultado y del acabo de la muestra con el microscopio estereoscópico integrado hace que el usuario gane eficacia al no tener que transferir la muestra para la valoración a distancia y de la superficie.
Variedad de herramientas para insertar
La amplia gama de herramientas permite fresar, cortar, perforar, moler y pulir la muestra sin tener que sacarla del instrumento. Gracias a que se puede observar el proceso a través del microscopio estereoscópico, se ahorra tiempo y dinero.
Inspection of Multilayer Samples
Workflow in Quality Control: Combining the target surfacing system Leica EM TXP and the light microscope Leica DM2700 M allows to reduce the required procedure, streamline the workflow and produce reliable and precise results.
