EM TIC 3X Système de polissage à faisceau ionique

Rotary stage (retrofittable) has specially been designed for large area milling (flat milling). The ion beam prepared area is exceeding Ø 25 mm.

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Platine standard pour les applications de routine et le dopage du contraste de la surface préparée

Une platine multi échantillons est utilisée pour améliorer les cadences de polissage. Trois échantillons peuvent être chargés et automatiquement traités dans le Leica EM TIC 3X en une session (par exemple la nuit) sans interaction de l'utilisateur.

Platine réfrigérante – la platine réfrigérante permet un traitement à très basse température. Avec des températures du porte-échantillon et du masque allant jusqu’à -160 °C, il est possible d'effectuer un traitement de grande qualité des échantillons extrêmement sensibles à la chaleur, tels que le…

Perfect for surfacing environmentally sensitive samples which can be subsequently transferred to coating and/or SEM systems under inert gas/vacuum conditions

Les porte-échantillons les plus divers sont disponibles pour presque toutes les tailles d'échantillons et une large plage d'utilisation : p. ex., le porte-échantillon pour un traitement complet, de la pré-préparation mécanique (Leica EM TXP) à la coupe en biseau par faisceau d'ions (Leica EM TIC…

Porte-échantillons pour échantillons d'une hauteur maximale de 12 mm, et adaptateurs pour tiges MEB disponibles dans le commerce

Plusieurs supports sont disponibles pour les échantillons congelés par haute pression.

Image du côté gauche  – porte-échantillon cryo

Image du côté droit – porte-échantillon cryo pour échantillons d'une taille maximum 10 x 7 x 4 mm

Triple Ion-Beam Cutter 

Processing of a 25 mm Ø oil shale sample