Sistemi di fresatura a fascio ionico
Quando le superfici dei campioni vengono preparate per il SEM o la microscopia ottica a luce incidente, il campione viene solitamente sottoposto a più processi finché lo strato o la superficie da analizzare non viene lavorata con precisione. Le soluzioni di Leica Microsystems per la tecnologia allo stato solido coprono tutte le necessità per una preparazione dei campioni di alta qualità.
Potete contattare il nostro team di esperti che vi aiuteranno a semplificare la preparazione dei campioni EM.
Semplifica la preparazione dei campioni EM con le soluzioni Leica Microsystems!
Mentre il sistema Leica EM TXP unisce tutte le fasi di preparazione in un unico strumento, il sistema Leica EM TIC 3X esegue la finitura superficiale finale di alta qualità per quasi tutti i materiali. Collegandosi con la soluzione docking Leica EM VCT, il campione può essere trasferito nella SEM (cryo) in condizioni ottimali.
Risoluzione ottimizzata con la fresatura a fascio ionico
La fresatura a fascio ionico, nota anche come incisione a fascio ionico, viene utilizzata per ottenere una qualità della superficie del campione ben preparata per immagini e analisi ad alta risoluzione. Rimuove gli artefatti dovuti al taglio meccanico e alla lucidatura. Le sezioni trasversali lucidate a ioni e i campioni planari preparati con l'incisione a fascio ionico possono essere utilizzati per l'acquisizione di immagini mediante microscopia elettronica e per analisi microstrutturali come EDS, WDS, Auger ed EBSD.
La fresatrice EM TIC 3X offre tre fasci di ioni che velocizzano in modo significativo il processo di preparazione e consentono di rivelare i più piccoli dettagli e strutture sulle superfici dei campioni. Guardate il filmato e scoprite come ridurre il tempo necessario per la preparazione della giunzione a filo d'oro IC utilizzando il Target Surfacing System EM TXP e il sistema di fresatura a fascio ionico EM TIC 3X.
Taglio e lucidatura
La preparazione spesso inizia con la necessità di tagliare, molare e lucidare accuratamente la superficie prima della fresatura a fascio ionico e del rivestimento metallico/o di carbonio. Con il sistema di preparazione del target Leica EM TXP tutte le fasi di lavorazione necessarie possono essere completate in un unico strumento, dal taglio diamantato e dalla fresatura alla lucidatura.
Superficie di alta qualità
L'esclusivo sistema di fresatura a fascio ionico del sistema Leica EM TIC 3X è la soluzione ideale per EDS, WDS, Auger ed EBSD, poiché la fresatura a fascio ionico è spesso l'unico metodo in grado di ottenere sezioni trasversali di alta qualità e superfici piabe di quasi tutti i materiali. Il processo rivela le strutture interne di un campione riducendo al minimo la deformazione o il danno.
