Contatti
Contatti

EM TXP Sistema per il trattamento superficiale del target

Leggi gli articoli più recenti

Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.

Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing

This article describes cross-section analysis for electronics concerning quality control and failure analysis of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), etc.
Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.

Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections

This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…
EBSD grain size distribution of the cross section of a gold wire within a silicon matrix from inside a CPU (central processing unit of a computer). The grains are highlighted with arbitrary colors.

High-Quality EBSD Sample Preparation

This article describes a method for EBSD sample preparation of challenging materials. The high-quality samples required for electron backscatter diffraction are prepared with broad ion-beam milling.
SEM image of the full Li-NMC electrode sample, showing the two porous layers and the metal film at the center of the structure.

Cross Section Ion Beam Milling of Battery Components

Sample Preparation of Lithium battery systems requires high quality surface preparation to evaluate their internal structure and morphology. Due to the brittle materials involved, preparing pristine…

Workflow Solutions for Sample Preparation Methods for Material Science

This brochure presents and explains appropriate workflow solutions for the most frequently required sample preparation methods for material science samples.
Soluzioni di microscopia per la produzione di batterie

Produzione di batterie

La produzione di batterie presenta diverse sfide chiave per quanto riguarda l'ispezione. Sono necessarie soluzioni per la preparazione dei campioni e per l'analisi visiva e chimica…

Campi di applicazione

Industria degli orologi microscopi

Per i produttori e l'industria degli orologi l'alta precisione degli stereomicroscopi Leica facilita il delicato assemblaggio degli orologi e offre un'ispezione affidabile, a garanzia di alta qualità…

Microscopi per le industrie automobilistica e dei trasporti

L’ obiettivo di Leica è essere il vostro affidabile collaboratore che vi guida verso le soluzioni di imaging migliori per le vostre esigenze, per consentirvi di essere sempre un passo avanti alla…

Microscopi per l'analisi dei materiali

L'analisi dei materiali richiede soluzioni di microscopia per l'imaging, la misurazione e l'analisi delle caratteristiche di una varietà di materiali come leghe metalliche, semiconduttori, vetro e…

Mercati della microscopia industriale

Negli ambienti industriali la tendenza attuale è di migliorare i tempi e raggiungere gli obiettivi in modo veloce per aumentare i profitti. Le soluzioni dedicate alle analisi microscopiche Leica, sono…

Analisi in sezione dei componenti elettronici

L'analisi in sezione dei componenti elettronici permette di controllare in modo approfondito i meccanismi che causano i guasti di componenti quali schede a circuito stampato (PCB), gruppi (PCBA) e…

Industria dell'elettronica e dei semiconduttori

Per l'elettronica e i semiconduttori, le soluzioni che consentono un'ispezione veloce sono fondamentali per esempio per l'analisi della sezione trasversale, del grado di pulizia per la ricerca e…

Produzione di batterie

La produzione di batterie presenta diverse sfide chiave per quanto riguarda l'ispezione. Sono necessarie soluzioni per la preparazione dei campioni e per l'analisi visiva e chimica…
Scroll to top