DM8000 M & DM12000 M 光学検査システム
DM8000 MおよびDM12000 M検査システムで試料をより深く把握することにより、製品の品質に関する判断力を向上させ、時間を節約することができます。
半導体やウエハーのような材料の迅速で信頼性の高い検査と分析を行い、品質管理や欠陥の迅速な検出を可能にします。
微細な構造や欠陥を素早く視覚化
大きなワーク表面の、傷や不純物、コンタミなどの様々な構造や欠陥を検出して分析できます。明視野、暗視野、偏光、微分干渉コントラスト(DIC)、蛍光(Fluo)、赤外(IR)など、豊富な照明・コントラスト方式から選択でき、迅速かつ確実な検査が可能です。紫外線(UV)を光源に利用することで解像度を向上させます。
さらに、斜め照明でより多くの表面情報を得ることができます。UVと組み合わせて、コントラストがさらに高まります。
Plan Fluotar対物レンズ(20倍、50倍、100倍)を利用した暗視野観察により、高いコントラストが得られるため、破面分析でより素早く欠陥を見つけることができます。


照明とコントラストを変えて撮影したウエハー表面の画像。右の画像ではコンタミがはっきりと確認できます。
高速での、ワーク全体のオーバービュー画像取得で時間を節約
オプションの0.7倍マクロ対物レンズを使用することで、大きなワークの全体像もステージ移動なく、一目で観察できます。マクロ対物レンズにより、最大約36mmの視野範囲を観察でき、対象エリアの位置出しを素早く実施でき、効率的なスクリーニングが可能になります
42mm以上の高さのあるワークの検査用に、顕微鏡にかさ上げアダプタを取り付けることができます。このアダプタを利用する場合、高さの低いワークの検査にはステージインサートが必要です。


パターニングされたウエハーの明視野像
簡単な操作でワーク検査
直感的でユニークなフォーカス機能により、精度の高いフォーカス調整が可能です。
- ベアウエハーのような反射率の高いワークは、フォーカス調整が困難です。フォーカスファインダー機能を使用して、簡単かつスピーディーにピントを合わせることができます。
- 凹凸のあるワークの観察では対物レンズ交換時に、レンズとワークが衝突してワーク破損のリスクがあります。ライカはフォーカスストップ機構が内蔵されており、不注意による損傷を保護します。
- 同焦点対物レンズにより、倍率を変更したときも、フォーカスを再調整する必要がなく、ピントが合います。