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DM6 M LIBS Solução de análise de composição de microestrutura
Economia de tempo de 90%: inspeção visual e química de materiais 2 em 1
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Battery Particle Detection During the Production Process
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Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing
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Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections
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Microscopic Defects in Electroplating
This free on-demand webinar shows how to identify quickly root causes of defects during electroplating of components with optical microscopy and LIBS (laser spectroscopy).
Factors to Consider for a Cleanliness Analysis Solution
Choosing the right cleanliness analysis solution is important for optimal quality control. This article discusses the important factors that should be taken into account to find the solution that best…
Efficient Particle Counting and Analysis
This report discusses particle counting and analysis using optical microscopy for cleanliness of parts and components. Particle counting and analysis is a critical part of quality assurance in the…
Quality Control Under the Microscope
Fast-rising demand for electric vehicles is one of the market’s main drivers, but there are other hotspots of growth, including the rise in renewable energy installations, such as photovoltaic panels,…
Hydraulics in the Automotive and Aerospace Industries
Cleanliness standards relating to lubricants, hydraulic fluids, and oils, e.g., ISO 4406 and DIN 51455 are discussed in this article. Cleanliness plays a central role in the automotive and…
Cleanliness of Automotive Components and Parts
This article discusses the ISO 16232 standard and VDA 19 guidelines and briefly summarizes the particle analysis methods. They give important criteria for the cleanliness of automotive parts and…
High Speed for Your Material Analysis Workflow
Learn from our expert, Dr. Konstantin Kartaschew, how the intelligent combination of light microscopy with laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS) will truly accelerate your root-cause-analysis…
Microstructural Characterization including Compositional Analysis
Leica Microsystems' versatile upright compound microscope, DM6 M, fitted with Laser-Induced Breakdown Spectroscopy module will let you not only analyze metallographically polished samples and conduct…
Keeping Particulate Contamination Under Control in Pharmaceutical Products
This article describes how a 2-methods-in-1 solution combining optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS) can be utilized for identification of particulate contaminants in the…
Fast Visual and Chemical Analysis of Contamination and Underlying Layers
Visual and chemical analysis of contamination on materials with a 2-methods-in-1 solution leading to an efficient, more complete analysis workflow is described in this report. A 2-in-1 solution,…
Depth Profiling and Layer Analysis for Inspection of Materials with a 2-In-1 Solution Combining Optical Microscopy and Laser Spectroscopy
In addition to simultaneous visual and chemical inspection, a 2-methods-in-1 materials analysis solution, which combines optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS), can also be…
Performing Elemental Analysis down to the Micro Scale
If you work in electronic component analysis, you will be familiar with the many challenges posed. Whether you are identifying metallic particles or checking product authenticity, it’s important to…
Visual and Chemical Analysis of Steel Microstructure: Faster Rating of Steel Quality
Simultaneous visual and chemical analysis of steel non-metallic inclusions with a 2-methods-in-1 solution, using optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS), is described in…
Simplify and Speed Up Element Analysis at the Micron Range
Learn how to get spatially resolved information about the chemical composition of elements in seconds - quickly and easily.
See the Structure with Microscopy - Know the Composition with Laser Spectroscopy
The advantages of a 2-in-1 materials analysis solution combining optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS) for simultaneous visual and chemical inspection are described in…
Fabricação de baterias
A fabricação de baterias tem vários desafios importantes relacionados à inspeção. São necessárias soluções para a preparação de amostras e para a análise microscópica visual e química.
Campos de aplicação
Metalografia
Os microscópios metalográficos da Leica são otimizados para a análise microestrutural de metais, ligas e outros materiais.
Automotivo e transporte microscópios
Nós, aqui na Leica, desejamos ser seu colaborador com o qual pode confiar, a fim de orientá-lo quanto às soluções ideais em captura e processamento de imagens, para que você possa estar à frente da…
Materiais & Ciências da Terra
Você precisa das ferramentas certas para imagens e análises confiáveis de alta qualidade. A Leica Microsystems é a fonte única para todas as suas necessidades de pesquisa. Juntamente com um suporte…
Limpeza técnica
Para fabricantes de produtos eletrônicos e industriais, bem como aplicações farmacêuticas não regulamentadas, as soluções para uma limpeza técnica eficiente oferecem vantagens significativas.
Microscópios de análise de materiais
A análise de materiais requer soluções de microscopia para a aquisição de imagens, medição e análise de recursos em diversos materiais, como ligas metálicas, semicondutores, vidro e cerâmica, bem como…
Mercados de microscopia industrial
Maximizar o tempo de atividade e atingir as metas de forma eficiente ajuda seu resultado final. As soluções de microscópio Leica podem fornecer uma visão dos menores detalhes da amostra, bem como…
Indústria metalúrgica
As soluções de microscopia da Leica para a indústria metalúrgica são úteis para avaliar a qualidade dos materiais e assegurar a conformidade com as normas aplicáveis.
Análise de cortes transversais para componentes eletrônicos
A análise de cortes transversais para componentes eletrônicos permite uma análise detalhada dos mecanismos de falha de componentes, como placas de circuito impresso (PCBs), conjuntos (PCBAs) e…
Indústria de eletrônicos e semicondutores
Para eletrônicos e semicondutores, soluções que permitem a inspeção eficiente, análise de seção transversal e limpeza, além da P&D de PCBs, wafers, chips IC e baterias são cruciais.
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Os microscópios de medição são úteis para determinar as dimensões de detalhes das amostras durante o controle de qualidade, análise de falhas e P&D. Saiba mais sobre os microscópios de medição da…
